Advanced Photonics
22 Sep 2023
用于高轴向分辨率 3D 形态成像的荧光干涉结构照明显微镜
Yile Sun1, Hongfei Zhu2, Lu Yin3, Hanmeng Wu1, Mingxuan Cai1, Weiyun Sun4, Yueshu Xu1,5, Xinxun Yang1, Jiaxiao Han1, Wenjie Liu1, Yubing Han1,6, Xiang Hao1, Renjie Zhou2, Cuifang Kuang1,5,7, Xu Liu1,5,7
1 浙江大学光学科学与工程学院，极限光子学与仪器国家重点实验室，杭州，中国
2 香港中文大学生物医学工程系，香港，中国
3 中国计量大学光电技术学院，杭州，中国
4 浙江工业大学药理研究所药学院，杭州，中国
5 浙江大学-杭州全球科技创新中心，中国杭州
6 华中科技大学布里顿·钱斯生物医学光子学中心-生物医学光子学教育部重点实验室、先进生物医学成像设备-武汉光电子国家实验室，中国武汉
7 山西大学，极限光学协同创新中心，太原，中国
† 这些作者对这项工作做出了同等的贡献。
10.1117/1.AP.5.5.056007
我们报告了一种新的成像方式，荧光干涉结构照明显微镜（FI-SIM），它基于用于宽视场横向成像的三维结构照明显微镜和用于轴向重建的荧光干涉。 FI-SIM 可以在数百毫秒的数量级内快速获取图像，并且无需 z 轴扫描即可在一半波长深度范围内呈现甚至 30 nm 的轴向分辨率。此外，相对较低的激光功率密度放宽了对染料的要求，并在观察固定和活的亚细胞结构方面实现了广泛的应用。
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